超声波涂层和壁厚测量仪-数据记录

TI-CMXDL数据记录超声波涂层和壁厚测量仪

Check-Line TI-CMXDL 可准确测量各种材料的涂层和壁厚。五种可选择的测量模式使操作员能够精确测量壁厚、涂层厚度并定位腐蚀和点蚀，而无需去除涂层。

超大图形 LCD 背光，具有易于导航的菜单，允许快速访问仪表设置和选项。

包括五种用户选择的操作模式：

涂层打开：使用脉冲回波测量壁厚。它分别显示壁厚和涂层厚度。

涂层脱落：使用脉冲回波测量壁厚。它仅显示壁厚。

温度补偿：使用脉冲回波测量壁厚并自动调整校准以补偿材料温度的变化。

穿透涂层：仅使用 Echo-Echo 测量壁厚。（不包括涂层）

仅涂层模式 (CT)：（ 涂层厚度）测量范围为 0.0005 至 0.100 英寸（0.013 至 2.540 毫米）。范围将根据涂层略有不同。

TI-CMXDL 数据记录器的特殊功能

• 带有 RS-232 输出的内置存储器，用于将数据传输到打印机或 PC
  
  
• 包括 Datacomm 数据传输和分析软件和 RS-232 电缆，免费
  
  
• 数据文件可以由用户设置为“网格类型”结构，其中数据在行和列中格式化，或者是“顺序”文件，其中所有数据都出现在单个列中
  
  
• 每个“网格类型”文件最多可设置 999 行 x 52 列
  
  
• 每个“顺序”文件最多可设置 512 行 1 列
  
  
• 每个文件都可以设置为“仅数据”或“数据加 B 扫描图形”。内存容量超过 225,000 个数据值或超过 16,000 个 B 扫描数据值

特征

• 包括 NIST 可溯源校准。
• 通过自动归零或手动归零自动识别探头。
• 种类繁多的双晶探头几乎可用于任何应用。
• 具有用户设置的开始和结束值的条形图提供围绕目标厚度值的最高分辨率。
• 差分模式允许用户设置“目标厚度值”，显示屏将以正值或负值的形式显示实际厚度和目标厚度之间的差异。
• TI-CMX-H 适用于高达 300°F/150°C 的表面温度。提供用于更高表面温度的可选高温探头
• 5 级可调增益（VLow、Low、Med、Hi 和 VHi），增量为 2db，提供 8 db 增益调节范围 (42–50 db)。
• 可以存储和检索 64 个自定义设置以方便使用，并贴上标签以便于识别
• 通过声音和视觉指示器显示高/低报警限值。
• 金属外壳提供强大的保护以抵御恶劣的环境。
• 测量高达 0.100" 的涂层
• IP 65 等级
• CE认证
• 保修： 仪表：2 年探头：90 天
• 美国制造